什么是安規(guī)測試儀？測試項目又有哪些呢？

更新時間：2022-03-08

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　　安規(guī)也就是安全標準規(guī)格，安規(guī)對制造的裝置與電組件有明確的陳述與指導，以提供具有安全與高品質(zhì)的產(chǎn)品給終端使用者;其目的主要是用來防止觸電、能源危害、火災(zāi)、機械和熱危害、輻射危害、化學危害等對人體造成的傷害.

　　一般地，每一個國家都可以建立自己本國的電氣安全標準，但是大多數(shù)的電源供給器制造廠商都是使用IEC，VDE，UL，CSA安全標準作為解決安全之需求.UL與VDE的安全標準有本質(zhì)上的差異，UL規(guī)格比較集中在防止失火的危險，而VDE規(guī)格則比較關(guān)于操作人員的安全，對于電源供給器而言，VDE乃是較嚴厲的電氣安全標準.

　　安規(guī)政策:高壓測試和接地測試*.

　　安規(guī)測試儀用于高電壓元器件、家電，電器等安全性能的耐壓測量試驗(用交、直流耐壓儀。主要是用來檢測產(chǎn)品是否漏電、是否接地良好、會不會傷害人身安全的設(shè)備，主要檢測項目有耐電壓強度、泄漏電流、絕緣電阻和接地電阻。

　　安規(guī)測試儀測試項目：

　　1、耐壓測試：

　　介電耐壓試驗高壓測試為一種安規(guī)認證機構(gòu)所要求的必測項目，產(chǎn)品須于出廠前做百分比的測試，它對產(chǎn)品而言，為品質(zhì)的保證及電氣安全性的指標，其測試方式是將一高于正常工作電壓的異常電壓加在產(chǎn)品上測試，并且這個電壓須持續(xù)一段時間，后判定只要無絕緣崩潰情形，即可算是通過此測試。

　　耐壓測試是zui常見的安規(guī)測試之一，常見的耐介質(zhì)、高電位、hipot試驗都是指耐壓測試。耐壓測試的主要目的測試DUT的絕緣能力。故當設(shè)備在運作時，對測試點施以一高壓，測試是否有絕緣破壞或電氣閃絡(luò)發(fā)生。

　　耐電壓測試的實質(zhì)是在被測產(chǎn)品電氣上本不連接的兩部分間施加一段時間的同頻高壓，以檢驗有無絕緣崩潰。

　　測試電壓須參照各相關(guān)的安規(guī)標準并視工作電壓及絕緣等級而定，通常使用交流電壓，若有電容器類零件橫跨于待測絕緣上，則建議使用直流電壓做測試，但測試電壓須為1.414倍的交流測試電壓。

　　耐壓測試是電氣安規(guī)測試中較主要的項目之一，所有的電氣組件及產(chǎn)品，包含變壓器、電容、電源供應(yīng)器、充電器、家電產(chǎn)品等，皆需要進行耐壓測試。

　　2、絕緣阻抗測試

　　絕緣電阻測試絕緣阻抗于相關(guān)的兩點施加直流電壓，高可達1000伏特，通常使用單位為歐姆，可判定良品及不良品。

　　絕緣類型分為四種：基本絕緣、輔助絕緣、雙重絕緣以及加強絕緣。由於產(chǎn)品內(nèi)部可能因灰塵過多、潮濕或是其他原因?qū)е卵孛娣烹姡虼艘岔氁阅蛪簻y試判斷產(chǎn)品內(nèi)部電路設(shè)計是否有沿面距離或絕緣不足等問題。

　　絕緣阻抗測試和直流耐壓測試是非常相似的，于耐壓相同的兩點施以直流電壓，zui高可達1000伏特，通常使用單位為MΩ，可判定良品及不良品，一般而言，測試電壓為500伏特或1000伏特，絕緣阻抗不得小于10MΩ。絕緣阻抗測試為非破壞試驗，且能偵測絕緣是否良好，在某些規(guī)范中，是先做絕緣阻抗測試再進行耐電耐壓測試，而絕緣阻抗測試無法通過時，往往耐電壓測試也無法通過。

　　3、接地阻抗測試

　　接地阻抗測試為測試產(chǎn)品的接地點，對產(chǎn)品的外殼或者金屬部分，施加一個恒流電源來測試兩點間的阻抗大小，一般產(chǎn)品規(guī)定測試25安培，阻抗不得大于0.1歐姆，而CSA則要求量測40安培檢測，可檢測出接地點螺絲未鎖緊，接地線徑太小，接地線路斷路等問題

　　接地阻抗測試為測試產(chǎn)品的接地點，對產(chǎn)品的外殼或金屬部份，施以一個恒流(一般電流在10-40A之間) 電源來測試兩點間的阻抗大小，一般產(chǎn)品規(guī)定量測2，阻抗不得大于0.1Ω而CSA要求量測40A，以此測試，可檢測出接地點螺絲未鎖緊、接地線徑太小、接地線斷路等問題。

　　4、泄漏電流測試

　　泄漏電流測試是指當設(shè)備供應(yīng)電流時，流經(jīng)設(shè)備金屬可接觸部分經(jīng)人體至接地部分或可接觸部分的電流。

　　泄漏電流測試意指，當設(shè)備供應(yīng)電壓時，流經(jīng)設(shè)備金屬可接觸部份經(jīng)人體至接地部份或可接觸部份的電流。量測時須使用人體仿真線路MD，并聯(lián)電壓表，其MD依不同的產(chǎn)品安規(guī)標準有不同的人體仿真線路，而測試電壓為zui不利的輸入電壓，一般訂額定電壓上限為測試電壓。

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